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泽攸电镜兼顾效率与细节的电镜 在半导体行业,EM2000 可用于芯片表面的缺陷检测,快速定位划痕、污染等问题;在材料科学领域,能观察复合材料的界面结构,分析相分布情况;在地质研究中,可识别矿物颗粒的微观形态,辅助矿物鉴定。其高效的工作能力与精准的成像效果,为各领域的研究与生产提供了有力支持。
更新时间:2025-10-21
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泽攸电镜微观世界的清晰窗口 泽攸 电镜作为一款基础型扫描电镜,在材料表面观察领域有着广泛的应用。其核心电子光学系统采用高品质磁透镜,通过多层线圈缠绕技术,形成均匀的磁场分布,为电子束的聚焦提供稳定条件。
更新时间:2025-10-21
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泽攸 集成化的台阶测量方案 泽攸台阶仪凭借灵活的配置,可适应多样化的测量需求。其采用模块化设计,传感器与工作台均可根据样品特性更换,提升设备的适用范围。
更新时间:2025-10-21
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泽攸深度测量的可靠选择 泽攸 台阶仪凭借灵活的配置,可适应多样化的测量需求。其采用模块化设计,传感器与工作台均可根据样品特性更换,提升设备的适用范围。
更新时间:2025-10-21
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泽攸多场景适配的台阶仪 泽攸 台阶仪在设计上注重扩大测量范围的同时保持测量精度,其驱动系统采用伺服电机,运行平稳,扫描过程中触针测力波动小。
更新时间:2025-10-21
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泽攸兼顾广度与精度的台阶仪 泽攸 台阶仪在设计上注重扩大测量范围的同时保持测量精度,其驱动系统采用伺服电机,运行平稳,扫描过程中触针测力波动小。
更新时间:2025-10-21
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