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布鲁克白光干涉光学轮廓仪微纳检测触手可及。布鲁克Contour X系列以“高适应性、易操作、低维护”为核心设计理念,帮助用户将微纳检测从专业实验室延伸至量产产线,为智能制造提供可靠的质量控制手段。
布鲁克白光干涉光学轮廓仪形貌测量新维度布鲁克Contour X系列白光干涉光学轮廓仪,以光学干涉技术为核心,通过非接触式测量实现亚纳米级表面形貌分析。其垂直分辨率突破0.1nm,横向采样密度达640×480点/次,可在5-20秒内完成单次扫描,兼顾效率与精度。
布鲁克白光干涉光学轮廓仪落地式全能选手 ContourX - 1000 采用落地式设计,机身稳固。其集成了 Bruker 倾斜 / 俯仰光学头,双光源、自动化的物镜转盘和样品台,以及可选配的晶圆卡盘 。这种创新设计为各种复杂应用提供了极大便利,对于有难度的表面和深沟槽结构也能轻松应对。操作界面配备简洁且有引导性的 VisionXpress™程序和模式,降低了操作人员的使用难度,即使经验不足也能快速
布鲁克白光干涉仪:轮廓测量新选择 在材料微观特性探究、元件质量把控的科研及工业场景里,表面轮廓测量的精度与效率,直接影响着研究进展与产物品质。布鲁克白光干涉光学轮廓仪,以其精巧设计与实用功能,成为众多专业人士信赖的得力工具。下面为你介绍两款该系列的产物。
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