产物细节：创新设计，功能丰富
ContourX - 1000 采用落地式设计，机身稳固。其集成了 Bruker 倾斜 / 俯仰光学头，双光源、自动化的物镜转盘和样品台，以及可选配的晶圆卡盘 。这种创新设计为各种复杂应用提供了极大便利，对于有难度的表面和深沟槽结构也能轻松应对。操作界面配备简洁且有引导性的 VisionXpress™程序和模式，降低了操作人员的使用难度，即使经验不足也能快速上手，轻松完成测量工作。全新的一键式高级寻找表面（Advanced Find Surface ™）功能结合自动聚焦和自动照明功能，无需每次测量前手动查找样品表面，极大提升了用户体验且缩短测量时间 。布鲁克白光干涉光学轮廓仪落地式全能选手
产物性能：多元技术，稳定高效
该轮廓仪融合了优良的白光干涉技术与自动化功能。白光干涉技术精准测量表面微观形貌，自动化功能则大幅提高测量效率。设备运行稳定，配备专属的内部参考激光和防震台，即便在嘈杂环境中，也能确保测量性能不受影响，提供可靠的测量结果。全局扫描干涉（USI）自适应测量模式可自动确定测量参数，在几十微米尺度内也能确保纳米级分辨率 ，无论是对光滑表面还是粗糙表面，都能实现高精度测量。
用材讲究：坚固耐用，品质之选
ContourX - 1000 的选材注重坚固耐用与性能稳定。光学部件采用高品质材料，确保成像清晰、测量准确。机械结构选用高强度金属，保证设备在长期使用中，维持精准的运动精度。设备整体架构设计稳固，有效抵抗外界干扰，适应工业生产车间等复杂环境，保障设备的稳定运行与长期使用。
参数详情
广泛用途
在材料研发中，可用于分析材料表面的微观结构、涂层厚度均匀性等，为新材料的开发与性能优化提供重要依据。在半导体制造环节，能精确检测芯片表面的平整度、缺陷等，保障芯片制造的良品率。在汽车零部件制造、医疗器械生产等行业，对于零部件表面粗糙度、纹理的测量，有助于提升产物质量，确保产物性能符合标准。
使用说明
使用前，全面检查设备外观及各部件连接情况，将其放置在平稳、远离振动源的场地，并确保工作环境符合要求。接通电源后，依据说明书完成初始化与校准工作。安装样品时，根据样品特点选择恰当的固定方式和样品台配件，保证样品安装牢固且位置准确。利用 VisionXpress™界面设置测量参数，如测量范围、扫描速度、分辨率等，参数设置应结合样品特性与测量目的。测量过程中，实时监控设备运行状态，若出现测量异常，立即暂停测量，排查诸如样品位移、光路污染、参数设置不当等问题。测量结束后，关闭设备电源，清理样品台及设备表面，定期对设备进行深度清洁、校准以及关键部件的维护保养，如对光学元件进行清洁、对传动部件添加润滑剂等，以维持设备的优良工作状态，保证测量结果的准确性与可靠性。
布鲁克白光干涉光学轮廓仪凭借精心设计、可靠性能、丰富功能及广泛适用性，为科研工作者与工业生产者提供了实用的表面轮廓测量方案，助力各行业在微观测量领域不断突破，推动技术创新与产物质量提升 。
布鲁克白光干涉光学轮廓仪落地式全能选手
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