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Sensofar S neox:多技术融合重塑测量边界

产物介绍

Sensofar S neox:多技术融合重塑测量边界
在精密制造与科研探索中,表面形貌的测量需求正从单一维度向多尺度、多材质、复杂结构演进。Sensofar S neox三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪通过集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面叠加四大技术,为半导体、生物医学、精密加工等领域提供了一种适应性更强的测量解决方案。

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更新时间:2025-10-22
厂商性质:代理商
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Sensofar S neox:多技术融合重塑测量边界

在精密制造与科研探索中,表面形貌的测量需求正从单一维度向多尺度、多材质、复杂结构演进。Sensofar S neox三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪通过集成共聚焦、白光干涉、相位差干涉及AI多焦面叠加四大技术,为半导体、生物医学、精密加工等领域提供了一种适应性更强的测量解决方案。

技术融合:四模式智能切换

S neox的传感器头采用模块化设计,内置高速高分辨率黑白CCD摄像头(2442×2048像素,60fps)与彩色摄像头,支持实时彩色成像与高对比度深度编码。其核心优势在于“一键四用"能力:用户可通过SensoSCAN软件根据样品特性自动切换测量模式。例如,在半导体晶圆检测中,共聚焦模式可测量微米级凸点高度,白光干涉模式可分析纳米级薄膜厚度,而多焦面叠加模式则能快速捕捉晶圆边缘的粗糙度变化,单次扫描即可覆盖从0.1nm到34mm的垂直测量范围。

性能突破:速度与稳定性兼得

数据采集速度达180帧/秒,典型三维图像获取时间仅需3秒,较传统设备效率提升5倍。这一突破得益于其无运动部件设计——采用Microdisplay共聚焦扫描技术替代传统z轴电机,消除机械振动干扰,同时配备四色LED光源(红、绿、蓝、白),寿命长达50,000小时,避免激光散斑对高反射率样品的干扰。在材料科学实验中,S neox可稳定测量斜率达86°的粗糙表面,如模具钢的喷砂纹理,而共聚焦模式的横向分辨率达0.10μm,能清晰分辨MEMS器件的临界尺寸。

参数与型号选择

S neox提供基础款与五轴全功能款两种型号。基础款配备6位电动鼻轮,支持5×、20×、100×共聚焦物镜与10×、20×干涉物镜切换;五轴款则增加±180°旋转台,适用于航空发动机叶片等大型曲面的多视角拼接测量。其XY平台行程范围为125mm×75mm,最大拼接张数达10×12(500Mpx高分辨率模式),兼容SECS/GEM半导体工厂自动化协议。

应用场景与操作指南

在生物医学领域,S neox曾用于分析人工角膜在湿润状态下的表面形貌。研究人员通过共聚焦动态扫描发现,干燥测量会导致3.2μm的形变误差,从而推动工艺革新。操作时,用户只需将样品置于XY平台,使用倾斜平台调平,在软件中设置照明亮度与扫描范围,系统即可自动完成对焦与数据采集。SensoVIEW软件支持2D/3D视图切换,可实时显示剖面线高度信息,并生成符合ISO 25178标准的粗糙度报告。


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