在半导体元件研发、航空航天配件制造、新型材料实验等场景中，样品材质多样（如金属、陶瓷、薄膜、生物材料），对测量模式的适配性要求更高，单一测量原理的台阶仪难以满足全场景需求。泽攸全自动台阶仪 JS3000B 凭借接触式与光学式双测量模式、适配多材质的设计，成为这类复杂场景的实用工具，帮助用户完成不同材质样品的台阶高度、厚度等检测任务，减少设备更换频率。
一、产物细节：双模式设计适配多材质
JS3000B 采用高刚性台式结构，整体尺寸为 550尘尘×450尘尘×500尘尘，重量 60kg，机身框架选用铝合金材质，经过整体压铸与时效处理，结构稳定性强，能减少外界震动对测量的影响，即使在多设备同时运行的车间或实验室，也能保持稳定状态。
机身外壳采用双层防护设计，内层为 ABS 工程塑料（表面具备防静电特性，表面电阻 10?-10?Ω），外层为可拆卸不锈钢防护罩，既能抵御油污、粉尘侵蚀，又方便日常维护。防护罩侧面设有高透光学观察窗，可实时观察测量过程，不用频繁开启防护罩干扰环境。
操作界面升级为 12.1 英寸工业级触控屏，分辨率 1920×1080，支持手套触控与多点手势操作（如双指缩放图像、滑动切换功能），界面响应迅速，在低温（10℃）或高温（40℃）环境下，触控灵敏度无明显变化。屏幕内置环境光传感器，能根据周围光线自动调整亮度，减少视觉疲劳。
样品台采用 “三轴全自动" 设计，X 轴最大行程 200mm、Y 轴最大行程 150mm、Z 轴最大行程 5000μm，搭配滚珠丝杠与纳米级光栅尺（分辨率 0.01μm），移动精度高，定位准确，能精准找到不同材质样品的测量区域。样品固定系统支持三种方式：真空吸附（适配直径 5mm-200mm 的硬质样品，如金属、陶瓷）、静电吸附（适配超薄或易变形样品，如薄膜、生物材料）、机械夹具（适配不规则形状样品，如航空配件、异形元件），不用额外定制工装，即可固定多种材质与形态的样品。
设备接口丰富，包含 2 个 USB3.0 接口、1 个千兆以太网接口、1 个 HDMI 接口、1 个 RS232 接口，支持数据高速导出、工厂系统对接、多人协作查看，还能连接外部自动化设备，融入复杂检测流程。
二、产物性能：双模式满足多场景需求
JS3000B 采用 “接触式电感 + 光学干涉" 双测量原理，可根据样品材质灵活切换：接触式模式适合高硬度、高粗糙度样品（如金属部件、陶瓷涂层），光学干涉模式适合低硬度、易损伤样品（如生物薄膜、光刻胶），两种模式切换时间短，不用手动更换部件，操作便捷。
测针系统选用红宝石测针（直径 1μm，半径 50nm），测针杆采用单晶蓝宝石材质，硬度高、耐磨性强，正常使用下寿命可达 10000 次以上，减少更换频率。光学干涉模块搭配高稳定性光源，波长波动小，能精准捕捉样品表面的干涉信号，适合薄样品或易损伤样品的测量。
设备测量范围为 0-5000μ尘，测量分辨率 0.0001μ尘，能应对多种检测需求：测金属部件的台阶高度（要求误差在 0.005μm 以内）、陶瓷涂层的厚度、生物薄膜的尺寸（要求误差在 0.001μm 以内）等。同一位置连续测量 30 次，重复性以内，能保证不同材质样品检测结果的一致性，避免因设备波动导致数据偏差。
设备内置 “三重温度补偿" 系统：环境温度补偿（10℃-40℃范围内修正温度影响）、设备自身温度补偿（修正电机、传感器发热带来的误差）、样品温度补偿（通过外接传感器监测样品温度，修正误差），长期连续运行（24 小时），适合长时间实验或批量检测。
测量效率方面，接触式模式单次测量约 0.5 秒，光学式模式约 1 秒，支持 “多路径并行测量"，可同时预设 10 条测量路径，设备按优先级自动完成，减少等待时间。针对多材质批量样品，设备还支持 “模式自动切换"，预设样品材质后，软件会自动选择合适的测量模式，不用手动调整，提升效率。
叁、用材与参数：耐用部件保障稳定运行
JS3000B 核心部件选用可靠材质与元器件，确保长期稳定使用。测针杆用单晶蓝宝石，弹性模量高，测量时不易弯曲，保证位移准确；测针座用陶瓷材质，表面经过精密研磨，同轴度误差小，避免安装偏差影响精度。
样品台导轨用陶瓷材质，热膨胀系数低，在温度变化时不易变形，表面经过抛光处理，摩擦系数小，长期使用后无明显磨损，使用寿命可达 30 万小时以上。驱动电机选用伺服电机，运行噪音低（在 45dB 以内），具备过载保护功能，遇到障碍物时快速停止，保护设备与样品。
电感传感器与光学干涉模块均采用进口元件，线性度误差低，信号捕捉精准；数据采集卡采样频率达 10MHz，能快速记录测量信号，避免数据丢失；存储模块标配 1TB 工业级固态硬盘，可存储大量测量数据，支持数据加密与权限管理，满足数据安全需求。
以下为 JS3000B 的核心参数表：
四、用途与使用说明：覆盖多材质检测
JS3000B 用途广泛，能适配多材质检测场景：在半导体厂，可测芯片金属布线高度（接触式）、光刻胶厚度（光学式），不用换设备就能完成不同工序检测；在航空航天厂，能测钛合金部件台阶（接触式）、复合材料涂层（光学式），确保配件尺寸符合要求；在新材料实验室，适合测纳米薄膜厚度（光学式）、金属基复合材料台阶（接触式），为实验分析提供数据支持；在生物实验室，可测生物医用薄膜尺寸（光学式），避免损伤样品。
使用 JS3000B 的步骤如下：
设备启动与环境检查：接通电源与稳压电源，打开设备开关，设备自动自检（传感器、电机、真空系统）与环境监测（温度、湿度、振动），自检通过后进入主界面；若环境参数异常（如振动过大），会提示预警，需排除干扰后继续。
样品准备与固定：根据样品材质选择固定方式（如金属样品用真空吸附、生物样品用静电吸附），将样品放在样品台中心，启动固定系统，软件确认样品固定牢固后，进入下一步。
测量模式与参数设置：在主界面选择测量模式（接触式 / 光学式 / 自动切换），输入样品信息（材质、尺寸），通过触控屏绘制测量路径（支持导入 CAD 图纸生成路径），设置参数（如测针接触力、光学波长、采样频率）。
自动测量与数据采集：点击 “开始测量"，设备按预设路径自动完成测量，实时显示测量曲线（高度 - 位置曲线、干涉条纹图），过程中可暂停调整或标记重点区域。
数据分析与设备关闭：测量完成后，软件自动处理数据（计算高度、厚度、统计偏差），生成包含数据、图表的报告，支持导出至分析软件；数据可存储或上传至指定系统，测量结束后关闭固定系统，取出样品，清洁样品台与测针，关闭电源。
使用时需注意：每周用标准校准块（精度 ±0.0005μm）校准双测量模式；每月清洁光学模块镜头，用专用无尘纸与清洁剂；每季度维护导轨（添加润滑油）与传感器（精度检测）；测量易损伤样品时，调低保针接触力（1-3mg）或用光学模式，避免样品变形。
五、型号特点：多材质检测的适配选择
作为泽攸针对多材质场景推出的全自动台阶仪，JS3000B 的优势在 “双模式适配"“多材质兼容" 与 “稳定耐用"。双测量模式解决了不同硬度、形态样品的检测难题，不用购置多台设备；多方式样品固定与丰富接口，能融入复杂检测流程；高刚性结构与耐用部件，减少故障，降低维护成本。
无论是半导体研发的多工序检测，还是航空航天的多材质配件测量，亦或是实验室的新材料分析，JS3000B 都能靠灵活的测量模式、稳定的表现，成为多材质检测场景的合适选择，帮助用户提升检测效率，获取可靠数据。
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