在纳米材料研发、薄膜技术研究、生物医用材料设计等科研领域，对材料表面微观 3D 结构的精准分析是揭示材料性能机制的关键，Sensofar 3D 共聚焦白光干涉仪 S neox 凭借高分辨率测量能力与灵活的实验适配性，成为科研团队探索纳米尺度结构的实用工具，为材料研发提供从形貌观察到数据量化的全流程支持。
一、产物细节：科研级设计适配实验需求
S neox（3D 共聚焦白光干涉仪）在结构设计上充分考虑科研场景的多样性，机身采用模块化组装方式，核心光学模块、样品台模块与控制模块可独立拆卸，便于根据实验需求进行定制化改造，例如加装高温样品台、低温样品台或电学测试附件，实现原位环境下的 3D 轮廓测量。机身尺寸与基础款保持一致（600mm×500mm×750mm），重量 70kg，可轻松融入高校实验室、科研院所的实验平台，无需专门改造场地。
光学系统的防护等级提升至 IP54，能有效抵御实验室常见的粉尘与少量溅水，适合长期处于开放实验环境中的使用需求。镜头接口除兼容基础款的 6 种倍率物镜外，还支持适配特种物镜（如长工作距离物镜、偏光物镜），长工作距离物镜（工作距离 10mm）可用于测量带有复杂附件的样品（如生长中的薄膜样品），偏光物镜则能结合偏光技术分析材料的光学各向异性，拓展实验研究维度。
样品台在基础款电动控制的基础上，新增 “手动微调" 模式，当科研人员需要对特定微观区域进行精准定位时，可通过旋钮进行微米级微调，搭配样品台自带的刻度标尺（精度 0.01mm），能快速记录样品测量位置，便于后续重复实验验证。操作界面除 15.6 英寸触控屏外，还支持外接专业绘图板，方便科研人员在测量图像上标注特征区域，直接在软件中完成数据分析标注，减少后期处理工作量。
二、产物性能：高分辨率支撑纳米尺度分析
S neox（3D 共聚焦白光干涉仪）的共聚焦模块经过科研级优化，采用高稳定性 LED 白光光源，光谱输出波动范围控制在 ±2% 以内，确保长期实验中光源强度的一致性，避免因光源波动导致的测量数据偏差。搭配背照式 CMOS 图像传感器（200 万像素，1920×1080），传感器的量子效率提升至 70%（450nm～650nm 波段），能捕捉到更微弱的反射光信号，适合测量低反射率的纳米材料（如二氧化硅薄膜、碳纳米管薄膜），横向分辨率保持 0.12μm（100x 物镜），可清晰呈现纳米颗粒的团聚状态、纳米线的直径分布。
白光干涉模块的算法进行了科研级升级，新增 “动态干涉条纹分析" 功能，可实时记录干涉条纹的变化过程，结合软件的相位解包裹算法，纵向测量分辨率进一步优化至 0.05nm，测量范围覆盖 0.5苍尘～10尘尘，既能精准测量纳米级薄膜的厚度（如 10nm 厚度的金属薄膜），也能分析毫米级台阶的高度差（如微流控芯片的通道深度）。在纳米材料研究中，可通过该模块量化分析纳米颗粒的粒径分布（误差 ±2%）、纳米薄膜的表面起伏度（PV 值，峰值与谷值之差），为材料性能与微观结构的关联研究提供量化数据。
设备还具备 “时间序列测量" 功能，科研人员可设置固定时间间隔（最小 10 秒 / 次），对同一区域进行连续 3D 轮廓测量，记录材料在外界刺激（如温度变化、光照照射）下的结构动态变化，例如观察纳米涂层在加热过程中的表面收缩情况、水凝胶材料在吸水过程中的膨胀速率，为材料动态性能研究提供直观的 3D 结构演变数据。
叁、用材与参数：科研级部件保障数据可靠性
核心光学部件选用科研级材料，光学镜头采用超低色散氟冕玻璃，相较于基础款的低色散玻璃，氟冕玻璃能进一步减少不同波长光线的色散差异，在全光谱范围（450nm～650nm）内保持一致的成像分辨率，避免因波长差异导致的测量误差，尤其适合对多波长光学特性敏感的材料研究（如光子晶体材料）。镜头镀膜采用离子辅助镀膜技术，膜层附着力提升 30%，长期使用后不易出现膜层脱落，保障光学性能稳定性。
样品台导轨采用陶瓷材料，陶瓷导轨的热膨胀系数仅为 1.5×10??/℃，远低于金属导轨，在温度波动较大的实验室环境中（如昼夜温差 5℃），仍能保持 ±0.05μm 的移动精度，避免温度变化导致的样品定位偏差。测量软件内置 “数据溯源" 功能，每次测量会自动记录设备状态参数（如光源强度、物镜倍率、环境温度），并与测量数据绑定保存，便于科研人员后期追溯实验条件，确保实验结果的可重复性与可验证性。
以下为 S neox（3D 共聚焦白光干涉仪）的科研场景核心参数表：
四、用途与使用说明：覆盖多领域科研需求
S neox（3D 共聚焦白光干涉仪）在科研领域的用途广泛，在纳米材料研发中，可用于碳纳米管薄膜的表面粗糙度测量（Ra 值）、量子点薄膜的厚度均匀性分析，判断制备工艺（如旋涂速度、退火温度）对材料微观结构的影响；在薄膜技术研究中，能监测薄膜生长过程中的厚度变化（如原子层沉积薄膜的逐层生长），计算薄膜生长速率，优化生长参数；在生物医用材料设计中，可分析支架材料的孔隙结构（孔径大小、孔隙率），评估材料与细胞的相容性；在能源材料研究中，能观察电池电极材料的表面形貌变化（如充放电循环后的电极膨胀），揭示电池性能衰减机制。
科研场景下的使用说明如下：首先根据研究目标确定测量方案，若进行原位高温测量，需提前安装高温样品台并连接温度控制器，将温度校准至实验所需范围（如 200℃），保温 30 分钟确保温度稳定；然后制备样品，纳米材料样品需进行清洁处理（如超声清洗去除表面杂质），薄膜样品需固定在专用载玻片上，确保样品表面平整无褶皱；打开设备电源与科研版测量软件，软件会自动检测外接附件状态（如高温样品台是否连接正常），确认无误后进入参数设置界面，选择 “科研模式"，设置物镜倍率（如 50x 用于纳米颗粒观察）、测量区域（如 200μm×200μm）、测量模式（共聚焦 + 白光干涉同步采集）；点击 “自动对焦" 后，软件会自动扫描样品表面，生成对焦清晰度曲线，科研人员可根据曲线选择优良对焦平面，确保测量区域的清晰度；启动测量后，设备会同步采集 2D 共聚焦图像与 3D 干涉数据，时间序列测量需额外设置测量次数与间隔时间；测量完成后，软件自动生成 3D 轮廓模型、表面参数报告（Ra、Rq、PV）与数据原始文件，科研人员可直接导出原始数据用于后续建模分析（如导入有限元分析软件），也可在软件中进行数据统计（如纳米颗粒粒径分布直方图）。
使用过程中需注意，原位实验前需进行 3 次空白实验，验证附件对测量精度的影响；测量低反射率样品时，需在软件中开启 “弱信号增强" 功能，提升图像信噪比；设备每次更换实验环境后，需进行 1 小时预热，待光学系统稳定后再开始测量，确保数据一致性。
五、型号特点：科研适配性突出
作为 Sensofar 针对科研领域推出的 3D 共聚焦白光干涉仪，S neox 的核心优势在于科研级的性能稳定性与实验适配性。其高分辨率测量能力能满足纳米尺度的精细分析需求，时间序列测量、原位附件兼容等功能则为动态实验、环境敏感实验提供可能；原始数据导出功能支持与各类科研分析软件兼容，便于科研人员进行深度数据挖掘，为论文发表提供可靠的数据支撑。
同时，设备的操作门槛保持适中，科研团队中的研究生经过 1～2 次培训即可独立完成基础测量，资深研究人员则可通过定制化改造拓展实验维度，兼顾了团队不同人员的使用需求。无论是探索纳米材料的微观结构机制，还是优化功能材料的制备工艺，S neox 都能以精准的 3D 分析能力，成为科研团队推进研究进展的实用助手。
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