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Sensofar LIN:科研微观精细测量工具

产物介绍

Sensofar LIN:科研微观精细测量工具
在生物医学、纳米材料等科研领域,对微小样品的高分辨率三维形貌分析是探索微观机制的关键。Sensofar 三维共聚焦白光干涉轮廓仪 LIN,凭借紧凑设计与精准的测量能力,成为科研人员开展精细微观研究的实用助手。

产物型号:
更新时间:2025-08-27
厂商性质:代理商
访问量:17
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Sensofar LIN:科研微观精细测量工具

在生物医学、纳米材料等科研领域,对微小样品的高分辨率三维形貌分析是探索微观机制的关键。Sensofar 三维共聚焦白光干涉轮廓仪 LIN,凭借紧凑设计与精准的测量能力,成为科研人员开展精细微观研究的实用助手。
产物细节
LIN 采用桌面式紧凑结构,机身尺寸约 550mm×450mm×600mm,重量仅 35kg,可轻松融入小型科研实验室。操作界面为 10 英寸触控屏,菜单逻辑清晰,支持自定义测量模板(如 “细胞表面分析"“纳米涂层测量"),可保存常用参数(扫描范围、分辨率、探测器模式),下次使用直接调用。样品台为电动微调结构,行程 X/Y 轴 25mm×25mm,Z 轴 10mm,定位精度达 0.5μm,搭配可调节弹性夹具,能稳固固定直径 5-20mm 的小型样品(如生物载玻片、纳米材料薄片)。设备光学系统集成共聚焦与白光干涉双模块,镜头可通过旋钮快速切换,无需复杂拆装;机身侧面设有防尘观察窗,便于实时观察样品状态,同时预留 USB 3.0 与以太网接口,方便数据导出与远程控制。
产物性能
LIN 的核心优势在于对微小样品的高分辨率测量,共聚焦模式下横向分辨率可达 0.15μm,纵向分辨率低至 3nm,能清晰捕捉细胞表面的微绒毛、纳米涂层的颗粒分布等细微结构。白光干涉模式则适合光滑表面(如光学镜片、半导体晶圆)的测量,纵向分辨率可达 0.1nm,可精准分析表面平整度与台阶高度。设备测量过程中数据采集连贯,多次测量同一区域的结果偏差小于 3%,能为科研实验提供稳定数据支持。针对易损伤样品(如生物细胞、聚合物薄膜),可调节低激光功率模式(0.1-10mW),减少测量对样品的破坏,保障结构完整性。此外,其扫描速度可在 0.5-5mm/s 间调节,快速扫描适合初步筛选,精细扫描满足高分辨率需求。
用材讲究
核心光学元件选用高透光率萤石玻璃,经过多层宽带增透镀膜,减少光线反射与色散,确保成像清晰,尤其在弱光信号采集时(如生物样品荧光成像)表现更优。样品台台面采用耐磨陶瓷材质,表面平整度误差小于 2μm,抗腐蚀且耐高温(可配合 37℃恒温模块使用,适配生物样品活性观察)。内部机械传动部件采用精密滚珠丝杠与伺服电机,滚珠丝杠表面镀有硬质铬层,耐磨性提升 40%,长期使用后仍能保持稳定的运动精度。设备外壳采用防腐蚀工程塑料,轻便且坚固,能抵抗实验室常见乙醇、丙酮等试剂的轻微溅落,同时减少静电对电子元件的影响。
参数详情
参数项
具体数值
测量技术
共聚焦 + 白光干涉双模切换
横向分辨率
共聚焦模式:0.15μ尘
纵向分辨率
共聚焦模式:3苍尘;干涉模式:0.1苍尘
测量范围
X/Y 轴最大 25mm×25mm,Z 轴最大 10mm
样品台定位精度
&辫濒耻蝉尘苍;0.5μ尘
扫描速度
0.5-5尘尘/蝉(连续可调)
激光功率
0.1-10尘奥(可调)
样品最大尺寸
直径 20mm,高度 10mm
工作温度
18-25℃
相对湿度
30%-60%(无冷凝)
广泛用途
在生物医学研究中,可用于观察活细胞表面的动态变化(如细胞迁移时的伪足形态)、病毒颗粒在细胞表面的吸附状态,为细胞生物学研究提供微观依据;在纳米材料研发中,能分析纳米颗粒的尺寸分布、纳米管的排列结构,辅助优化材料合成工艺;在光学元件研究中,可检测微型透镜的表面面形误差、薄膜的厚度均匀性;此外,在微电子领域,还能用于观察芯片封装的引线键合处微观结构,辅助改进封装工艺。
使用说明
使用前,将设备放置在水平、无明显振动的光学平台上,远离空调出风口与阳光直射。连接电源后预热 20 分钟,同时启动激光校准程序,确保光路稳定。样品制备需符合要求:生物样品需经过固定(如多聚甲醛固定)或保持活性(配合恒温模块);纳米材料样品需清洁表面杂质,固定在载玻片或硅片上。将样品安装在样品台夹具上,通过触控屏调节样品台位置,使测量区域对准镜头;根据样品特性选择测量模式(共聚焦适合粗糙 / 高反差样品,干涉适合光滑样品),设置扫描范围、分辨率与激光功率。启动测量程序,设备自动完成数据采集,实时生成三维形貌图;若需分析参数(如粗糙度、颗粒尺寸),可调用配套软件的分析模块。测量完成后,保存数据至电脑,关闭激光光源,清洁样品台与镜头(用专用镜头纸轻擦)。每周检查激光功率稳定性,每月清洁设备内部散热风扇,每 3 个月请专业人员校准光学系统。

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