泽攸 ZEM18：科研机构微观分析利器-九幺视频

泽攸 ZEM18：科研机构微观分析利器

产物介绍

泽攸 ZEM18：科研机构微观分析利器
对于经费有限、空间紧张的小型科研团队或初创公司，泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM15 以其高性价比与易维护性，成为微观分析工作的实用工具，助力完成基础科研与产物研发中的显微观察任务。

产物型号：

更新时间：2025-08-25

厂商性质：代理商

访问量：24

产物咨询 17701039158

产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION

台式电镜&补尘辫;台阶仪&补尘辫;原位分析

泽攸泽攸台式扫描电镜泽攸台阶仪泽攸探针台及低温系统泽攸罢贰惭原位方案(样品杆) 泽攸厂贰惭原位解决方案

查看全部产物

氮掺杂石墨烯与石墨相氮化碳复合材料的研究进展及创新制备方法

国产础滨背后的“微观守护者”：泽攸科技窜贰惭系列台式扫描电镜

扫描电镜（厂贰惭）：原理、应用与样品制备全解析

泽攸科技窜贰惭系列台式扫描电镜：赋能国产*端制造的“微观之眼

详细介绍在线留言

泽攸 ZEM18：科研机构微观分析利器

在科研机构的材料科学、生物医学、环境科学等领域，对微观结构的高精度分析是推动研究进展的重要支撑。泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM18，凭借较高的分辨率与丰富的分析功能，成为科研人员开展微观研究的得力工具。

产物细节

ZEM18 的机身设计注重稳定性与扩展性，机身底部设有防震减震装置，可有效减少外界振动对电子光学系统的影响，保障高分辨率图像质量。操作界面为专业级触控屏，支持自定义扫描参数（如扫描速度、采样点数、信号积分时间），同时配备鼠标、键盘接口，方便科研人员进行复杂的数据分析与参数调试。样品室为多功能设计，除常规样品放置外，还支持低温样品台（-196℃至室温）、加热样品台（室温至 500℃）等附件的安装，可模拟不同环境条件下的样品微观变化（如材料的热膨胀、生物样品的冷冻观察）。设备配备高灵敏度背散射电子探测器，支持成分衬度成像与原子序数衬度成像，可初步分析样品的元素分布差异；同时预留能谱仪（EDS）、电子背散射衍射（EBSD）接口，可根据研究需求后期升级，实现元素分析与晶体结构分析功能。此外，机身侧面设有样品预处理接口，可连接真空镀膜仪、离子溅射仪等设备，实现样品的原位预处理与观察。

产物性能

ZEM18 的高分辨率性能能满足科研级微观分析需求。其二次电子图像分辨率可达 2.0nm（30kV），在低电压（1kV）下仍能保持 5.0nm 的分辨率，适合观察易损伤的生物样品、高分子材料等；背散射电子图像分辨率为 4.0nm（30kV），可清晰区分样品中不同元素的分布区域（如金属合金中的相分离、复合材料中的成分梯度）。加速电压调节精细，0.5 - 18kV 的范围覆盖从低电压低损伤观察到高电压高分辨率分析的需求；放大倍数覆盖 10 - 200000 倍，可实现从样品宏观形貌到纳米级细节的连续观察。在图像采集方面，支持高分辨率静态拍照（最大分辨率 4096×3072 像素）与动态视频录制（帧率可达 30 帧 / 秒），可捕捉样品表面的动态变化（如材料在加热过程中的形貌演变）。此外，设备具备图像降噪、像散校正、自动拼接等高级功能，能提升图像质量与分析效率，如通过图像拼接功能可获得大面积（如 1mm×1mm）的高分辨率全景图像，分析样品的整体结构与局部细节。

用材讲究

为保障科研级性能与长期稳定性，ZEM18 的电子光学系统核心部件选用高品质材料。电子枪采用高纯度钨灯丝，经过特殊处理，发射电流稳定，使用寿命可达 300 - 500 小时，减少频繁更换灯丝对实验进度的影响；透镜系统采用无氧铜精密加工，配合多层纳米镀膜，减少电子能量损失与散射，保障电子束的聚焦精度。样品室内部采用不锈钢与钛合金复合材质，具备优异的抗腐蚀能力，可应对酸性、碱性样品的长期观察；样品台采用高强度铝合金，表面经过精密研磨，平整度误差小于 5μm，确保样品放置后的稳定性。探测器选用高灵敏度半导体材料，信号采集效率高，噪声低，能捕捉微弱的二次电子与背散射电子信号；内部电路采用低噪声设计，减少电子干扰，保障图像的信噪比。真空系统采用高品质分子泵与机械泵，真空度稳定且抽气速度快，可快速达到高真空状态，减少样品在低真空环境中的暴露时间。

参数详情

参数项	具体数值
分辨率	二次电子图像：2.0苍尘（30办痴），5.0苍尘（1办痴）；背散射电子图像：4.0苍尘（30办痴）
加速电压	0.5 - 18kV，步长 0.01kV（精细调节）
放大倍数	10 - 200000 倍，连续可调，最小步长 0.1 倍
样品室功能	支持低温样品台（-196℃至室温）、加热样品台（室温至 500℃）安装
样品台移动	X/Y 轴电动移动（行程 50mm×50mm），定位精度 ±5μm；Z 轴电动对焦（行程 20mm），精度 ±0.1μm
电子枪类型	长寿命高稳定性钨灯丝电子枪
探测器	高灵敏度二次电子探测器（SE）、高分辨率背散射电子探测器（BSE，支持成分衬度 / 原子序数衬度）
真空系统	机械泵 + 分子泵，真空度：高真空模式≤5×10??Pa，低真空模式 10 - 1000Pa
图像功能	高分辨率拍照（4096×3072 像素）、动态视频录制（30 帧 / 秒）、图像降噪、像散校正、自动拼接
扩展接口	能谱仪（贰顿厂）接口、电子背散射衍射（贰叠厂顿）接口、样品预处理设备接口
数据处理	支持灰度分析、颗粒计数、尺寸测量、轮廓提取等基础分析功能
工作环境	温度 18 - 25℃，相对湿度 30% - 60%（无冷凝），振动≤0.05g（50 - 200Hz）

广泛用途

在材料科学研究中，ZEM18 可用于观察纳米材料的形貌与尺寸分布（如纳米颗粒、纳米管）、金属材料的相变过程、复合材料的界面结构，为材料性能优化提供微观依据；在生物医学研究中，能观察细胞在支架材料表面的黏附与增殖形态、病毒颗粒的结构特征（需配合低温样品台），助力疾病诊断与药物研发；在环境科学领域，可分析大气颗粒物的形貌与成分（需配合能谱仪）、土壤微生物的群落结构，为环境污染治理提供数据支持；在地质学研究中，还能观察岩石矿物的微观结构、化石的精细形态，辅助研究地质演化过程与古生物生态。

使用说明

使用前，将 ZEM18 放置在恒温恒湿的科研实验室中，安装在光学防震平台上，确保环境温度波动小于 ±2℃/ 小时，远离强磁场、强电场与气流干扰。打开设备电源，进行预热（建议预热 1 小时），期间启动真空系统，检查真空度是否达到高真空要求（≤5×10??Pa）。根据研究需求准备样品：金属、半导体等导电性样品需清洁表面氧化层与污染物；高分子、生物等绝缘样品需进行喷金或碳镀膜处理（镀膜厚度 5 - 10nm）；若需低温观察，将样品冷冻后安装在低温样品台上，若需加热观察，将样品固定在加热样品台上并连接温度控制系统。将样品台安装到设备中，关闭样品室门，等待真空度恢复后，选择探测器类型与加速电压：观察表面形貌选用二次电子探测器，分析成分差异选用背散射电子探测器；低电压（0.5 - 5kV）适合易损伤样品，高电压（10 - 18kV）适合高分辨率观察。设置扫描参数（如扫描速度、采样点数），启动图像扫描，通过触控屏或电脑软件调节聚焦、像散校正、亮度与对比度，直至图像清晰。如需高分辨率图像，选择慢扫描速度与高采样点数，若需动态观察，选择快扫描速度。图像采集完成后，利用配套软件进行数据分析，如颗粒尺寸测量、灰度值统计、图像拼接等，并保存原始数据与分析报告。实验结束后，关闭扫描程序，待样品室放气后取出样品，若使用了特殊样品台，需按照说明书进行拆卸与清洁。日常维护中，每周检查一次真空系统的油位与滤芯状态，每月清洁一次电子枪腔体（需在专业人员指导下进行），每季度对探测器与透镜系统进行校准；若发现图像分辨率下降、真空度无法达标等问题，及时联系厂家技术人员检修，避免自行拆解核心部件。