泽攸 ZEM15：小型科研团队显微分析工具
对于经费有限、空间紧张的小型科研团队或初创公司，泽攸台式扫描电子显微镜 ZEM15 以其高性价比与易维护性，成为微观分析工作的实用工具，助力完成基础科研与产物研发中的显微观察任务。
产物细节
ZEM15 的机身设计注重实用性，无复杂的附加功能，核心操作集中在触控屏与少数实体按键上，科研人员无需专业操作资质即可快速上手。样品室配备可拆卸样品台，支持多种规格样品固定（如圆形样品座、薄片样品夹），适配金属粉末、半导体芯片、生物切片等不同类型样品。设备内置小型真空机组，开机后自动完成抽真空流程，无需外接真空管道，简化实验室布局；真空系统设有保护功能，若样品室密封不良，会自动停止抽真空并报警，避免设备损坏。机身背部设有散热风扇与防尘滤网，长时间连续工作（如 4 - 6 小时）也能保持机身温度稳定，减少因过热导致的故障。此外，设备支持远程控制功能，可通过电脑软件连接设备，实现图像采集与参数调节，方便科研人员在通风橱外操作挥发性样品。
产物性能
ZEM15 的性能可满足小型科研团队的基础显微分析需求。其二次电子图像分辨率能清晰呈现纳米级别的表面细节，如观察纳米涂层的颗粒分布、半导体材料的表面缺陷等；背散射电子图像可区分样品的成分差异，辅助分析材料的元素分布（需配合能谱仪时，设备预留能谱仪接口，可后期升级）。加速电压调节范围宽，低电压（0.5 - 5kV）适合观察易损伤样品（如生物组织、高分子材料），高电压（10 - 15kV）适合高分辨率观察金属、陶瓷等硬质材料。放大倍数覆盖从宏观到微观的观察需求，低倍观察可快速定位样品特征区域，高倍观察能深入分析细节结构，且图像畸变较小，数据可靠性较好。此外，设备具备图像拼接功能，可将多个局部图像拼接成大面积全景图像，适合分析样品的整体形貌与分布规律。
用材讲究
为适应科研场景的长期使用需求，ZEM15 的样品室门密封采用耐老化的硅橡胶密封圈，确保长期使用后的真空密封性；样品台采用耐腐蚀的钛合金材质，减少样品与样品台的化学反应，尤其适合观察金属腐蚀样品。电子光学系统的透镜组件采用无氧铜材质，具备良好的导热性与导电性，减少电子束偏转误差；探测器窗口采用超薄氮化硅膜，提高信号采集效率，保障图像质量。内部电路选用工业级电子元件，在电压波动（±10%）环境下仍能稳定工作，减少因供电不稳定导致的设备故障；真空机组的泵体采用耐磨材料，使用寿命可达 5000 小时以上，降低维护成本。
参数详情
广泛用途
在新材料研发团队中，ZEM15 可用于观察纳米复合材料的颗粒分散情况、涂层的表面均匀性，为材料配方优化提供微观数据；在小型电子公司的研发中，能检测芯片封装的引线键合质量、印刷电路板的线路缺陷，辅助改进生产工艺；在生物医学初创团队中，可观察医用支架的表面形貌、细胞在材料表面的黏附状态，为医疗器械研发提供参考；此外，在文物修复研究中，还能分析文物表面的颜料层结构、腐蚀产物形态，助力制定科学的修复方案。
使用说明
安装时，需确保实验室地面平整，工作台承重能力≥80kg，设备周围预留至少 30cm 空间用于散热与操作。开机前，检查设备电源、数据线连接是否正常，清理样品室内部灰尘，确保样品室门密封良好。根据样品类型准备样品：导电性样品（如金属、半导体）可直接固定；绝缘样品需用喷金仪喷涂 5 - 10nm 厚的金属层（如金、铂），防止电子积累导致图像失真；生物样品需经过冷冻干燥或临界点干燥处理，避免真空环境下样品变形。将样品固定在样品台上，放入样品室，关闭样品室门，在触控屏上启动抽真空程序，待真空度达到设定值（高真空模式适用于高分辨率观察，低真空模式适用于易挥发样品）。选择探测器类型（二次电子探测器用于表面形貌观察，背散射电子探测器用于成分差异分析），设置加速电压与放大倍数，启动扫描后调节聚焦旋钮，直至图像清晰；若需高倍观察，可逐步提高放大倍数，同时微调聚焦与 astigmatism（像散校正）。观察过程中，可通过触控屏保存图像，或通过电脑软件实时记录数据。实验结束后，先停止扫描，启动样品室放气程序，待气压恢复常压后取出样品。关闭设备电源前，需等待真空机组停止工作（约 5 分钟）。日常维护中，每周清洁一次防尘滤网，每月检查样品室密封圈是否老化，每季度更换一次真空系统的滤芯；若发现图像模糊、真空度无法达标等问题，及时联系专业人员检修，避免自行拆解设备。
技术参数
泽攸 ZEM15：小型科研团队显微分析工具
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