白光干涉仪S neox的非接触测量优势-九幺视频

白光干涉仪S neox的非接触测量优势

产物介绍

白光干涉仪S neox的非接触测量优势:Sensofar S neox以非接触光学测量技术，无损表征柔软、易损或高洁净样品的三维形貌，避免划伤与形变，确保数据真实，适用于精密材料与生物医学领域。

产物型号：

更新时间：2025-11-14

厂商性质：代理商

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产物分类

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白光干涉仪S neox的非接触测量优势

在测量精密、柔软、易损伤或洁净度要求高的样品时，接触式测量方法可能存在局限性。探针与样品表面的物理接触，存在划伤样品表面或导致探针磨损的风险，且测量力可能使柔软样品发生形变，影响结果的真实性。Sensofar S neox 3D光学轮廓仪采用光学原理进行测量，其非接触的特性在这些场景下展现出其应用意义。

非接触测量的核心优势在于避免了与样品表面的任何物理相互作用。这意味着：

1.无损检测：不会在样品表面留下划痕或压痕，这对于成品检验、珍贵样品（如考古文物、生物标本）分析、以及需要后续工艺处理的在制品检测尤为重要。

2.真实反映柔软表面形貌：对于聚合物、水凝胶、生物组织等柔软材料，接触式测针的压力可能导致表面凹陷，测得的高度值低于真实值。光学测量则能捕获其不受外力影响的状态。

3.适用于洁净环境：没有机械接触，避免了因摩擦产生的颗粒污染，符合半导体、光学元件等对洁净度有严格要求的行业标准。

S neox通过白光干涉和共聚焦等技术实现非接触测量。它利用光线作为“探针"，通过分析从样品表面反射回来的光信号来重建三维形貌。整个测量过程对样品本身没有施加任何力。

此外，非接触测量通常意味着更快的测量速度。特别是对于三维面测量，S neox可以快速获取一个区域内的所有数据点，而接触式轮廓仪需要进行逐点、逐线的扫描。

当然，非接触光学测量也有其适用的边界，例如对于极深窄的盲孔底部或具有极度悬垂的结构，光线可能无法到达，测量会比较困难。但对于绝大多数表面，从光滑到粗糙，从坚硬到柔软，S neox的非接触方式都提供了一种安全、快速且能提供丰富三维信息的测量途径。

因此，Sensofar S neox的非接触测量优势，使其特别适合应用于材料科学、微电子、生物医学和精密光学等需要无损、无污染、真实表征表面形貌的领域。