白光干涉仪S neox的高反射表面测量-九幺视频

白光干涉仪S neox的高反射表面测量

产物介绍

白光干涉仪S neox的高反射表面测量；Sensofar S neox通过可调光源、偏振附件与优化算法，有效抑制高反光表面过曝，实现对抛光金属、硅片等样品的高质量三维测量。

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更新时间：2025-11-12

厂商性质：代理商

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白光干涉仪S neox的高反射表面测量

高反射表面，如经过抛光的不锈钢、金属镀层、硅片等，在光学测量中是一把剑。一方面，高反射率意味着信号强度可能足够；另一方面，强烈的镜面反射容易导致相机探测器饱和，产生“耀斑"，掩盖表面细节，并使干涉条纹过曝，从而无法进行有效的三维形貌重建。Sensofar S neox 3D光学轮廓仪提供了多种应对策略，以处理高反射表面带来的测量挑战。

最直接的调节手段是控制光源强度。S neox配备可自动或手动调节亮度的LED光源。对于高反射表面，用户可以大幅降低光源亮度，以避免探测器饱和。这是处理大多数高反射表面情况有效的方法。

当仅调节光强仍不足以消除局部过曝或耀斑时，偏振技术可以作为一种有效的辅助手段。S neox可以选配偏振器附件。通过调整起偏器和检偏器的相对角度，可以选择性地抑制来自样品表面的强反射光成分，同时保留用于形成干涉的漫反射或特定偏振方向的反射光，从而改善图像质量，获得对比度更好的干涉条纹。

此外，调整照明方式也可能带来改善。例如，在某些情况下，利用非科勒照明或其他特定的光路设置，可以分散强烈的反射光斑，减轻其对整体图像的影响。

除了光学调节，软件算法也提供了一定的补救措施。即使原始图像中存在部分过曝区域，*的叁维重建算法也会尝试利用有效的干涉信号部分来重建形貌，尽可能减少数据丢失区域。对于因过曝而无效的点，软件会进行标识，用户可以在结果中清晰看到这些区域。

对于某些特殊结构的高反射表面，如球面或弧面，强烈的反射可能会造成更大的困难。此时，可能需要结合多种策略，例如使用低倍物镜以减少单位面积的光通量，同时降低光强，并仔细调整样品倾斜角度，以找到优良的测量位置。

因此，面对高反射表面，Sensofar S neox并非束手无策。它通过硬件上的光强可调、偏振附件可选，以及软件上的算法优化，为用户提供了多种可以尝试的方案。用户可以根据具体样品的特点，灵活运用这些工具，从而实现对各类高反射表面较为有效的三维形貌测量。

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