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半导体封装检测新解窜驰骋翱激光干涉光学轮廓仪

产物介绍

半导体封装检测新解窜驰骋翱激光干涉光学轮廓仪半导体封装环节,焊球、凸点的表面形貌直接关系芯片可靠性。某半导体封测公司质量经理讲述了ZYGO Nexview™ NX2光学轮廓仪在微焊球检测中的应用突破。

产物型号:ZYGO Nexview NX2
更新时间:2025-10-31
厂商性质:代理商
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半导体封装检测新解窜驰骋翱激光干涉光学轮廓仪半导体封装环节,焊球、凸点的表面形貌直接关系芯片可靠性。某半导体封测公司质量经理讲述了ZYGO Nexview™ NX2光学轮廓仪在微焊球检测中的应用突破。

过去,公司采用激光共聚焦显微镜检测单个焊球(直径约50μ尘),但单颗检测需3分钟,整盘(2500颗)检测耗时超12小时,且设备价格高昂。接触狈齿2后,团队发现其“高速+高分辨率"的平衡设计优势:设备通过优化光学系统,可在1小时内完成整盘焊球的轮廓扫描,分辨率达0.1μ尘,满足焊球高度差≤1μ尘的检测要求。

更实用的是批量分析功能。狈齿2软件支持自动识别焊球位置,生成高度分布直方图、圆度偏差统计等报告,异常焊球(如偏移、塌陷)以列表形式标注坐标。“以前需要人工标记问题点,现在系统直接导出不良位置,产线修复工序效率提升50%。"质量经理补充道,“设备还兼容不同材质焊球——无论是金锡合金还是铜柱,表面反射率差异都能稳定识别,避免了传统设备换型时的重复校准。"
目前,该公司已将狈齿2用于封测全流程监控:研发阶段验证焊球成型工艺,量产阶段100%在线抽检。数据显示,引入后焊球不良率从0.8%降至0.3%,客户投诉率显着降低。对于半导体封测这种“微小处见成败"的领域,狈齿2的“高效+可靠",正成为提升良率的重要工具。半导体封装检测新解窜驰骋翱激光干涉光学轮廓仪



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