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徕卡显微镜偏光技术:揭示材料内在特性徕卡Visoria P偏光显微镜的核心能力在于其偏光观察技术,它利用偏振光来研究各向异性材料的光学特性。
徕卡Visoria P偏光显微镜的核心能力在于其偏光观察技术,它利用偏振光来研究各向异性材料的光学特性。显微镜配备了完整的偏光组件,包括偏光片、检偏镜和补偿器。检偏镜有固定、180°、360°等多种配置,使研究人员能够灵活设置观察条件。补偿器方面,系统支持最多5级或30级的倾斜补偿器,以及石英楔,λ和1/4 λ板,这些组件对于精确测量样品的双折射特性至关重要。
在光学性能方面,Visoria P采用了无应力光学部件,这是偏光显微镜的关键要求,因为它能确保观察到的双折射来自样品本身而非光学部件。物镜为偏光专用设计,配有25尘尘直径的偏光专用物镜,支持从低倍到高倍的观察需求。显微镜整体光路支持25尘尘视野直径,提供了较为宽阔的观察范围。对于需要精确对准的偏光观察,物镜转盘具有可调中功能,确保每个物镜都能准确对中。
Visoria P支持三种不同的偏光观察模式:平行偏振光、正交偏振光和圆偏振光。在平行偏振光模式下,当偏光片和检偏镜平行时,可以观察到样品结构和特征颜色;在正交偏振光模式下,偏光片和检偏镜呈90°交叉,有助于识别双折射材料;圆偏振光则通过在偏光片和检偏镜之间插入四分之一波片产生,有利于研究某些双折射材料。这些不同的观察模式为材料研究提供了多种视角。
锥光观察是Visoria P的另一个特点。通过分析干涉图,研究人员可以获得对于晶体内部结构和光学特性的更多信息,例如光轴数量。显微镜提供三个锥光镜模块选择:勃氏镜滤块、勃氏镜模块(A/B模块)和高级锥光镜模块(可调焦),满足不同级别的研究需求。锥光法对于评估各向异性材料的光学特性很有用,在研究矿物、岩石、煤炭、塑料、聚合物等材料时能够提供关键结果。
使用说明:进行偏光观察前,需要确定起偏振镜或检偏振镜振动方向。可以通过观察工作台上的黑云母切片来校准:当黑云母解理与起偏振镜的振动方向平行时呈现深棕色,垂直时呈现淡黄色。起偏振镜与检偏镜应正交,通过转动起偏振镜至最暗位置来确认。日常使用中,应定期检查偏光组件的对齐情况,确保观察结果的准确性。
参数表:
偏光组件:偏光片、检偏镜、补偿器
检偏镜类型:固定、180°、360°
补偿器:倾斜补偿器(最多5级或30级)、石英楔、λ和1/4 λ板
锥光镜模块:勃氏镜滤块、勃氏镜模块(础/叠模块)、高级锥光镜模块
光学部件:无应力光学部件
物镜:偏光专用物镜,25尘尘直径
观察模式:平行偏振光、正交偏振光、圆偏振光
用途:Visoria P偏光显微镜广泛应用于地质学、材料科学和生物学等领域。在地质学中,可用于矿物鉴定和岩石分析;在材料科学中,适用于研究塑料、聚合物、液晶、玻璃和混凝土等材料的特性;在生物学中,可用于观察具有双折射特性的生物组织。
徕卡显微镜偏光技术:揭示材料内在特性
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