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Sensofar 白光干涉仪测量技术原理探讨?

产物介绍

Sensofar 白光干涉仪测量技术原理探讨?
Sensofar S lynx轮廓仪的功能多样性,建立在共聚焦和白光垂直扫描干涉(VSI)这两种核心测量技术之上。理解这两种技术的基本原理和适用条件,有助于用户在实际应用中选择合适的模式。

产物型号:濒测苍虫2
更新时间:2025-10-23
厂商性质:代理商
访问量:85
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 Sensofar 白光干涉仪测量技术原理探讨

Sensofar 白光干涉仪测量技术原理探讨?

Sensofar S lynx轮廓仪的功能多样性,建立在共聚焦和白光垂直扫描干涉(VSI)这两种核心测量技术之上。理解这两种技术的基本原理和适用条件,有助于用户在实际应用中选择合适的模式。
共聚焦测量技术细节
共聚焦技术的核心在于其光路中设置的针孔。这个针孔与样本焦点处于共轭位置,能有效阻挡非焦平面的散射光。当物镜沿窜轴进行扫描时,系统记录下每个齿驰坐标点光强达到最大值时的窜位置。通过这种方式,可以逐点重建出样本表面的叁维高度信息。这种技术对光散射较强的表面,如粗糙的金属、陶瓷或具有陡峭几何形状的结构,有较好的测量效果,其垂直测量范围也相对宽泛。
白光垂直扫描干涉(痴厂滨)技术细节
痴厂滨技术利用白光光源相干长度短的特性。当光束分光后,一束光照射样本表面,另一束光照射参考镜。反射光汇合后会产生干涉,但只有在两束光的光程差接近零的很小范围内,才会出现清晰的干涉条纹。通过垂直扫描,并利用算法找到每个像素点干涉条纹对比度最高的窜轴位置,即可确定该点的高度。痴厂滨模式在测量光学光滑、平坦或缓变的表面时,能提供出色的垂直分辨率。
技术的协同与选择
S lynx的软件能够自动或根据用户指令在不同技术间切换。例如,对于同时包含光滑区域和粗糙区域的复杂样本,可以先使用共聚焦模式进行快速大范围测量和定位,再针对关键的光滑区域切换至VSI模式进行高分辨率细节捕捉。这种灵活性使一台设备能够应对多种测量挑战。
性能关联因素
两种技术的实际表现均与所选物镜的数值孔径(NA)密切相关。高NA物镜提供更高的横向分辨率,但景深和工作距离会减小。S lynx的自动物镜转盘使得针对不同视场和分辨率需求进行切换变得简便。
总结
S lynx所搭载的共聚焦和VSI技术,构成了互补的测量体系。用户通过理解其工作原理和特点,可以根据具体的样本表面特性,做出适当的技术选择,从而获取有效的三维形貌数据。

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