Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能S neox-九幺视频

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能

产物介绍

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能
在微型电子元件制造领域，如微型传感器、微型连接器、芯片封装元件等，其尺寸通常以微米为单位，表面质量与尺寸精度直接决定元件的电气性能与装配兼容性。哪怕是几微米的尺寸偏差或细微划痕，都可能导致元件无法正常工作或装配失效。

产物型号：S neox

更新时间：2025-10-23

厂商性质：代理商

访问量：76

产物咨询 17701039158

产物分类

PRODUCT CLASSIFICATION

九幺视频

布鲁克叠贰鲍碍贰搁白光干涉光学轮廓仪 Sensofar 仪光新型共聚焦白光干涉仪 SENSOFAR 3D光学轮廓仪厂贰狈厂翱贵础搁共聚焦白光干涉仪厂贰狈厂翱贵础搁结构光叁维轮廓仪厂贰狈厂翱贵础搁平面度测量干涉仪 ZYGO九幺视频布鲁克九幺视频

查看全部产物

S mart 2：革命性面测量系统，让工业自动化更智能、更简单！?

Sensofar 四大核心设备，精准应对你的每一份测量需求

Sensofar新型3D共聚焦白光干涉光学轮廓仪S neox纳米材料研究的适配设计

Sensofar新型3D共聚焦白光干涉光学轮廓仪S neox 从入门到批量检测

详细介绍在线留言

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能

Sensofar S neox 共聚焦白光干涉光学轮廓仪的软件系统，除基础操作功能外，还包含丰富的拓展模块，为不同行业用户提供定制化测量解决方案。核心软件 SensoSCAN 支持插件式扩展，用户可根据需求添加行业专用分析模块，如针对半导体行业的 “晶圆缺陷分析插件"，能自动识别晶圆表面的划痕、凹坑等缺陷，统计缺陷数量与尺寸分布，并生成可视化报告；针对光学元件行业的 “面型误差分析插件"，可计算平面度、曲率半径等关键参数，且数据格式兼容主流光学设计软件，方便后续设计优化。

数据处理功能同样具备拓展性，软件内置的 “自定义算法编辑器" 允许专业用户编写专属分析公式，如在材料科学领域，用户可编写计算表面纹理各向异性的算法，满足特殊研究需求。多设备协同管理模块支持同时连接 5 台 S neox 设备，通过统一软件界面实现参数设置、数据采集与结果汇总，适合大型实验室或生产线的多设备联动场景。

软件的兼容性也值得关注，支持与 CAD 软件联动，将测量得到的三维轮廓数据导入 CAD 系统，与设计模型进行对比分析，快速识别实际产物与设计图纸的偏差。同时，软件可接入工厂 MES 系统，实时上传测量数据，便于生产过程的质量监控与数据追溯。操作权限管理功能能为不同岗位用户设置差异化权限，如操作员仅拥有测量与数据查看权限，管理员则可修改参数与管理用户，保障操作安全性。

Sensofar 轮廓仪：解锁粗糙度测量更多可能

上一个：ZYGO Nexview NX2ZYGO光学轮廓仪应用：覆盖多行业检测场景