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                ZYGO ZeGage Pro 技术:多原理支撑测量方案ZeGage Pro 依托多种成熟光学测量技术,实现对不同表面特性样品的精准检测。其核心技术包括相移干涉(PSI)与动态干涉(DI),相移干涉技术通过控制参考镜的微小位移,采集多幅具有不同相位差的干涉图像,再通过算法提取样品表面高度信息,适用于超光滑表面测量,纵向分辨率可达到 0.1nm
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ZeGage Pro 依托多种成熟光学测量技术,实现对不同表面特性样品的精准检测。其核心技术包括相移干涉(PSI)与动态干涉(DI),相移干涉技术通过控制参考镜的微小位移,采集多幅具有不同相位差的干涉图像,再通过算法提取样品表面高度信息,适用于超光滑表面测量,纵向分辨率可达到 0.1nm;动态干涉技术则能在样品轻微振动的环境下稳定工作,通过实时捕捉干涉条纹变化,消除振动对测量结果的影响,适配生产线上的在线检测场景。


 公司地址:北京市房山区长阳镇
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