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Sensofar S neox 操作指南轻松驾驭精密测量

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Sensofar S neox 操作指南轻松驾驭精密测量
对于精密测量设备而言,操作的便捷性直接影响工作效率。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox 在设计时充分考虑了用户的操作体验,通过人性化的软件与合理的硬件布局,让复杂的微观测量过程变得简单易上手。

产物型号:
更新时间:2025-10-22
厂商性质:代理商
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Sensofar S neox 操作指南轻松驾驭精密测量

对于精密测量设备而言,操作的便捷性直接影响工作效率。Sensofar 新型共聚焦白光干涉光学轮廓仪 S neox 在设计时充分考虑了用户的操作体验,通过人性化的软件与合理的硬件布局,让复杂的微观测量过程变得简单易上手。
S neox 配备的 SensoSCAN 操作软件是入门操作的核心工具,其界面设计简洁直观,各功能模块划分清晰。刚接触设备的用户无需复杂培训,通过软件内的引导式操作流程,就能快速完成从样品放置到数据获取的全过程。软件左侧设有功能菜单栏,包含测量模式选择、参数设置、图像采集等常用功能,右侧则为实时成像区域,用户可直观观察样品表面的图像变化。底部的状态栏会实时显示当前的操作状态,如扫描进度、数据存储路径等,让用户对测量过程一目了然。
导航预览功能是 SensoSCAN 软件的一大亮点。在进行正式测量前,用户只需点击预览按钮,设备便会自动对样品进行大范围扫描,生成一幅低倍全景图像。在这幅图像上,用户可以通过鼠标框选想要测量的区域,软件会自动计算并调整镜头位置,将测量点精准移至视野中心。更实用的是,当用户切换不同放大倍数的镜头时,预览图上会同步显示当前镜头的视场范围与位置,避免因更换镜头导致测量点丢失,大幅减少了定位所需的时间。
测量模式的选择也十分灵活。软件内集成了共聚焦、相位差干涉、白光干涉和多焦面迭加四种测量模式,用户可根据样品特性进行选择。例如,测量光滑的光学镜片表面时,可选用相位差干涉模式,以获得亚纳米级的纵向分辨率;面对粗糙的金属工件表面,则可切换至多焦面迭加模式,快速还原表面形貌。每种模式下的参数设置都有默认推荐值,新手用户可直接使用,若有特殊需求,也可手动调整扫描范围、分辨率等参数,参数调整过程中,软件会实时显示预览效果,方便用户判断设置是否合适。
数据处理与分析功能同样出色。测量完成后,软件会自动生成三维形貌图,并提供多种数据展示方式,如等高线图、截面线图等,用户可根据需要选择。对于需要量化分析的参数,如粗糙度 Ra、台阶高度等,软件内置了符合 ISO 标准的计算模块,只需点击相应按钮,就能自动完成计算并生成报告。报告支持导出为 PDF、Excel 等格式,方便数据存档与分享。
针对批量检测场景,S neox 可增配 SensoPRO LT 软件,实现全自动测量。用户只需提前设置好测量程序,放入样品后按下启动按钮,设备就会自动完成定位、测量、数据分析等一系列操作,全程无需人工干预。该软件还支持插件式扩展,可根据行业需求添加专用分析模块,如针对 LED 行业的 PSS 分析模块、针对半导体封装的 Bump 分析模块等,进一步提升检测效率。
在硬件操作方面,S neox 的样品台采用电动控制,通过软件上的操纵杆或方向键即可实现 X、Y、Z 轴的精确移动,移动精度可达微米级。样品台最大承重为 20kg,放置样品时只需将其平稳放在台面上,通过两侧的夹具固定即可,夹具的松紧程度可通过旋钮调节,适用于不同尺寸的样品。设备的镜头更换也十分便捷,采用卡扣式设计,轻轻旋转即可完成装卸,更换过程中软件会自动识别镜头型号,并匹配相应的参数设置。
无论是科研实验室的单次精细测量,还是生产线上的批量检测,S neox 都能通过便捷的操作流程与强大的软件功能,帮助用户高效完成测量任务,让精密测量不再复杂。

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