闯厂10叠：手动台阶测量实用工具
在电子制造、材料加工等领域，台阶高度、薄膜厚度等参数的测量是保证产物质量的重要环节。JS10B 手动台阶仪凭借操作简便、性能稳定的特点，成为实验室和生产车间进行常规台阶测量的实用选择，能满足多数基础测量需求。
产物细节：结构设计贴合手动操作
JS10B 的机身采用铸铁底座，表面经过精密加工，具有较好的稳定性和刚性，能减少外界振动对测量的影响。底座上方设有可调节的水平支架，通过旋钮可微调设备水平状态，确保测量基准的准确性。测量平台为不锈钢材质，表面光滑耐磨，可放置不同尺寸的样品，平台边缘设有刻度，便于大致定位样品测量位置。
核心测量机构包括测头、升降导轨和微调旋钮。测头采用金刚石材质，针尖半径较小，能精准接触样品表面的台阶边缘。测头连接在可沿垂直方向移动的导轨上，导轨采用精密滑动轴承，移动顺畅且间隙较小，保证测量过程的平稳性。微调旋钮位于设备右侧，转动时可精确控制测头升降，旋钮上标有刻度，每格对应一定的位移量，便于操作人员掌握移动幅度。
设备的显示部分为指针式量表，量程覆盖 0-100μm，刻度清晰易读，最小分度值为 0.1μm，能直观反映测头的位移变化。量表下方设有归零按钮，可在测量前将指针调至零位，减少读数误差。机身侧面设有电源接口（部分型号为电池供电），整体结构紧凑，占地面积约 0.2 平方米，适合放置在工作台角落。
产物性能：基础参数满足常规需求
JS10B 的测量范围为 0-100μm，能覆盖多数电子元件、薄膜材料的台阶高度测量需求。在重复性方面，对同一台阶进行多次测量，偏差较小，基本能满足日常质量检测的精度要求。测头的测力可通过内部弹簧调节，范围在 10-50mN 之间，能适应不同硬度的样品，避免因测力过大损伤软质材料表面。
设备的响应速度与操作人员的操作熟练度相关，熟练情况下，单次测量可在 1-2 分钟内完成，适合小批量样品的测量。测量平台的平面度较好，在平台范围内移动样品时，基准面的高度变化较小，减少了因平台不平导致的测量偏差。
由于采用手动操作，测量结果的稳定性受人为因素影响较大，但通过规范操作流程，可将误差控制在可接受范围内。设备在环境温度 10-30℃、湿度≤70% 的条件下能保持稳定性能，无需严格的恒温环境，适合车间等非实验室场景使用。
用材、参数与用途
JS10B 的关键部件选用耐用材料，测头针尖为天然金刚石，硬度高且磨损缓慢，使用寿命较长；升降导轨采用轴承钢，经过淬火处理，耐磨性和精度保持性较好；量表内部齿轮为黄铜材质，传动平稳且不易生锈；旋钮和手柄采用工程塑料，手感舒适且防滑。
部分参数如下：
该设备广泛应用于电子制造、薄膜制备、机械加工等领域。在电子行业，可测量印刷电路板上焊盘的高度差、芯片封装的台阶；薄膜领域用于测量镀层、涂层的厚度；机械加工中可检测零件表面的微小台阶、划痕深度等，是基础质量控制的辅助工具。
使用说明
使用前需检查设备是否放置平稳，通过水平支架调节至水平状态，打开电源（或确认电池电量充足），将量表指针归零。将样品放置在测量平台上，通过平台刻度大致定位测量位置，转动微调旋钮使测头缓慢下降，直至针尖轻轻接触样品表面的基准面，此时按下归零按钮，让量表指针回到零位。
缓慢移动样品（或通过移动测头支架），使测头对准台阶的待测位置，再次转动微调旋钮，让测头下降至接触台阶面，读取量表指针指示的数值，即为台阶高度。测量完成后，将测头升起，取下样品，关闭电源。
操作时需注意，转动微调旋钮时应缓慢平稳，避免测头快速撞击样品表面；测头针尖脆弱，避免接触坚硬颗粒或剧烈碰撞；测量软质样品时，应调小测力，防止样品表面变形；定期用酒精清洁测量平台和测头，避免杂质影响测量精度。
JS10B 手动台阶仪以其简单的结构、便捷的操作和实用的性能，为基础台阶测量工作提供了经济实惠的解决方案，适合对测量精度要求不高、样品批量较小的场景使用，是生产和科研中基础测量的得力助手。
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