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布鲁克轮廓仪:入门级叁维测量利器

产物介绍

布鲁克轮廓仪:入门级叁维测量利器
在精密测量需求日益普及的当下,并非所有用户都需要复杂功能的设备。对于刚接触三维光学测量的科研团队、中小型制造公司,或是仅需基础表面检测的场景,一款操作简单、性价比高且性能可靠的仪器尤为重要。ContourX-100 九幺视频,正是为这类需求量身打造的入门级产物,以简洁设计与实用功能,降低三维测量门槛。

产物型号:颁辞苍迟辞耻谤齿-100
更新时间:2025-08-29
厂商性质:代理商
访问量:12
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布鲁克轮廓仪:入门级叁维测量利器
在精密测量需求日益普及的当下,并非所有用户都需要复杂功能的设备。对于刚接触三维光学测量的科研团队、中小型制造公司,或是仅需基础表面检测的场景,一款操作简单、性价比高且性能可靠的仪器尤为重要。ContourX-100 九幺视频,正是为这类需求量身打造的入门级产物,以简洁设计与实用功能,降低三维测量门槛。
产物细节与用材
ContourX-100 在材质选择上注重实用性与经济性的平衡。机身采用优质工程塑料与轻量化合金组合,既保证了结构稳定性,又有效控制了设备重量与成本,整机搬运与安装更为便捷,适合空间有限的小型实验室或生产车间。光学系统采用标准化光学组件,经过严格校准,确保基础测量场景下的成像质量,同时简化了后期维护流程。
仪器操作界面设计简洁,配备高清液晶显示屏与实体功能按键,无需专业编程知识即可快速上手;样品台采用防滑耐磨的 ABS 材质,搭配可调节简易夹具,能稳定固定中小型样品,且清洁方便,日常使用中不易积累污渍。此外,设备外壳经过防静电处理,可减少静电对电子元件与测量过程的干扰,提升使用安全性。
产物性能
基础测量需求的精准满足
ContourX-100 的 Z 轴最大扫描量程为≤2mm,专注于基础表面测量场景,垂直分辨率可达<0.05nm,能准确捕捉样品表面的细微高度变化,如薄膜厚度、小型零件的表面粗糙度等。水平分辨率为 1.0μm(Sparrow 准则),搭配基础光学成像算法,可清晰呈现样品表面的宏观纹理与结构,满足入门级测量对精度的基本要求。
简便操作与快速上手
仪器仅支持手动操作模式,操作流程简化为 “放置样品 - 调整位置 - 设置参数 - 启动测量" 四个核心步骤。参数设置界面提供预设模板,涵盖金属、塑料、玻璃等常见材料的基础测量参数,用户无需自行反复调试,选择对应模板即可启动测量,大幅缩短学习周期。同时,仪器配备实时图像预览功能,通过显示屏可直接观察测量区域,便于快速调整样品位置,提升操作效率。
稳定的基础工作表现
针对入门级使用场景的环境特点,ContourX-100 配备简易减震脚垫,能过滤地面轻微震动,在普通办公或实验室环境下即可正常工作,无需额外投入减震设备。仪器工作温度范围为 18-28℃,在常规室内温度波动下,测量数据偏差可控制在允许范围内,满足基础测量对数据稳定性的需求。此外,设备功耗较低,连续工作时发热少,可长时间稳定运行,适合中小型公司的批量抽检场景。
参数表
参数
详情
最大扫描量程
≤2 mm
垂直分辨率
<0.05 nm
水平分辨率
1.0 μm(Sparrow 准则)
台阶高度准确性
<1.5%
台阶高度重复性
<0.3% 1 sigma repeatability
最大扫描速度
15 μm/sec(标准配置)
样品反射率范围
0.5% 到 100%
最大样品倾角
≤30°(光滑表面);≤75°(粗糙表面)
样品高度
≤50 mm(1.97 in.)
XY 样品台
80 mm(3.15 in.)手动调节样品台(无编码器)
Z 轴聚焦
手动调节
倾斜功能
无(需手动调整样品角度)
光学计量模块
标准化单色 LED 照明;固定单物镜
物镜
固定 10X(可选配 5X 或 20X)
放大器
固定 1X
摄像头
单色;1.3 MP with 640×480 data array
软件系统
VisionXpress 精简版分析软件(兼容 Windows 10 OS;32-bit)
自动测量功能
校准
通过 NIST/PTB 可追溯台阶高度标准(需定期手动校准)
设备尺寸
350 mm(W)x 450 mm(D)x 600 mm(H)
重量
40 kg
保修期
12 months
用途
小型制造公司质量抽检
在小型电子元件、塑料零件等生产场景中,可用于抽检产物表面粗糙度、尺寸偏差等基础指标。例如,在小型玩具零件生产中,通过 ContourX-100 测量零件表面的光滑度,判断是否符合安全标准,避免因表面毛刺导致的使用风险。
高校基础教学实验
适合作为高校材料、机械等专业的基础教学设备,用于演示叁维光学测量原理、表面形貌分析等实验课程。学生可通过实际操作,掌握样品放置、参数设置、数据读取等基础技能,为后续深入学习打下基础。
科研团队初步研究
在科研项目初期的样品筛选、基础数据采集阶段,可用于快速获取样品表面的基础三维信息。例如,在新型薄膜材料研发中,通过 ContourX-100 测量薄膜厚度与表面平整度,初步判断材料制备工艺的可行性,为后续深入研究提供基础数据支持。
使用说明
  1. 设备启动与准备:将仪器放置在水平桌面,连接电源与电脑(需安装配套精简版软件),打开设备开关与软件。等待仪器预热完成(约 1-2 分钟),期间请勿触碰光学镜头与样品台。使用无尘布蘸取酒精,轻轻擦拭样品表面,去除灰尘、指纹等杂质。

  1. 样品放置与定位:根据样品尺寸,调整样品台简易夹具,将样品平稳固定在样品台中央。通过手动旋钮移动样品台,观察仪器显示屏或电脑软件中的实时图像,将待测量区域调整至视野中心,旋转调焦旋钮,使图像清晰。

  1. 参数设置与测量:在软件中选择对应样品材料的预设参数模板,确认扫描量程(默认≤2mm,可根据样品实际情况微调)、测量时间等参数。点击 “开始测量",仪器将手动控制扫描过程,期间保持手部稳定,避免触碰设备。

  1. 数据处理与保存:测量完成后,软件将生成三维形貌图与基础参数(如粗糙度 Ra、平均厚度等)。可通过软件中的基础分析工具,查看数据详情,标注关键测量点。确认数据无误后,将数据以图片或表格形式保存至电脑,便于后续整理与汇报。

ContourX-100 九幺视频以操作简单、性价比高、满足基础测量需求的特点,为中小型公司、高校、科研团队等用户提供了入门级三维测量解决方案,帮助用户以较低成本,快速获取样品表面的基础三维信息。布鲁克轮廓仪:入门级叁维测量利器

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