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大视野高效测量：Sensofar S wide

当面对尺寸较大的样品或需要统计性分析大面积表面时，传统的显微镜视野往往显得局促。Sensofar S wide大视野3D光学轮廓仪，专门为解决此类问题而设计，它能够在单次测量中捕获最大10 x 10 mm?的区域，兼顾了视野广度与细节深度。

产物细节与性能

S wide的核心特点是其超大的测量视野和快速扫描能力。它采用经过优化的光学系统，即使在视野边缘也能保持良好的成像质量和测量精度。其高速扫描模式可以快速完成对大面积的测量，显著提升了检测吞吐率，非常适合生产节拍要求高的应用场景。

尽管视野巨大，但它并未牺牲功能性。它同样支持共聚焦和白光干涉两种测量技术，用户可以根据样品的特性选择最合适的模式，既能应对粗糙表面，也能分析光滑表面。

用材与参数

S wide采用了与S neox相同标准的精密机械结构和高质量光学玻璃，确保了大视野下的图像不失真和测量的稳定性。大型样品台承重能力较强，可容纳各种尺寸的样品。

主要参数示例：

• •最大单次测量视野： 10 x 10 mm?

• •技术： 共聚焦与白光干涉

• •垂直分辨率： < 0.01 nm (干涉模式)

• •横向分辨率： 可达1.1 μm

• •样品台： 可选多种尺寸和行程的电动平台

用途与使用说明

S wide在诸多领域都有用武之地，例如：分析金属、纸张、纺织品、高分子薄膜等材料的表面纹理和磨损；测量大面积光栅或菲涅尔透镜的面形；评估显示屏面板的涂层质量等。

操作流程简便：放置样品后，在软件中选择低倍物镜，框选需要测量的大区域，设备即可自动完成拼接扫描。其软件提供强大的分析功能，可以从宏观大数据中提取有统计意义的表面参数，为用户提供全面的表面质量评估报告。

大视野高效测量：Sensofar S wide