在微观测量领域，Sensofar S neox 三维共聚焦白光干涉光学轮廓仪以其创新融合的技术，成为探索微观世界的有力工具。Sensofar 微观世界的探索先锋
产物细节
S neox 设计紧凑，机身小巧精致，易于安置在各类实验室或生产车间的台面上。其操作界面简洁直观，通过清晰的显示屏与便捷的控制按键，用户能迅速完成测量模式选择、参数调整等操作。样品台采用高精度的平移与旋转机构，可灵活精准地定位样品，确保测量区域准确无误。设备的光学部分配备了可调节的遮光罩，有效减少外界光线干扰，保证测量环境的稳定性。
产物性能
这款轮廓仪将共聚焦、干涉和多焦面叠加技术集于一身。共聚焦技术提供高横向分辨率，可清晰呈现样品表面细节，尤其适合测量高斜率表面；干涉技术能实现亚埃分辨率，在测量高度光滑表面时表现出色；Ai 多焦面叠加技术则可快速测量大粗糙表面形状。测量过程中，数据采集连贯稳定，能适应从粗糙到超光滑等各种表面特性的样品测量。
用材讲究
S neox 在选材上十分用心。核心光学部件采用高透光率、低色散的优质光学玻璃，确保光线传输稳定，成像清晰准确。设备内部的机械传动部件选用耐磨、高强度的合金材料，保障长期使用过程中的运动精度与稳定性。外壳采用坚固且具有一定抗腐蚀能力的材质，有效保护内部精密元件。
参数详情
广泛用途
在半导体制造中，可精确测量芯片表面的微小结构、刻蚀深度等，助力提升芯片性能与生产质量；在光学元件生产里，能检测透镜、反射镜等的表面瑕疵与面形误差，保障光学成像质量；在材料科学研究中，用于分析薄膜厚度、表面微观结构，为新材料研发提供关键数据支持。
使用说明
使用前，将设备放置在平稳、无振动的工作台上，检查电源连接及各部件是否正常。安装样品时，根据样品形状与尺寸，利用样品台的调节机构将其稳固固定，并确保表面清洁无杂质。通过操作界面选择合适的测量模式与参数，如物镜倍数、扫描范围等。测量过程中，避免触碰设备，防止干扰测量。测量结束后，及时清理样品台，定期对光学镜头进行清洁与保养，以维持设备的良好性能。凭借技术融合、出色的性能与广泛的适用性，Sensofar S neox 成为微观测量领域的，为众多行业的精密检测与研究工作提供可靠支持。Sensofar 微观世界的探索先锋
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