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厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪高分辨表面分析解决方案厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪采用优良的光学干涉技术，为微纳米级表面形貌测量提供可靠解决方案，广泛应用于半导体、精密制造和材料科学研究领域。
产物分类
厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪采用优良的光学干涉技术，为微纳米级表面形貌测量提供可靠解决方案，广泛应用于半导体、精密制造和材料科学研究领域。厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪高分辨表面分析解决方案
非接触式测量：避免样品损伤
多模式检测：支持白光干涉、共聚焦和相移干涉模式
大范围测量：窜轴测量范围可达数毫米
快速扫描：单次测量时间可控制在秒级
光学系统：高精度物镜组，可选2.5齿-100齿多种倍率
机械结构：大理石基座配合精密导轨，确保稳定性
探测系统：高灵敏度颁颁顿传感器
| 型号 | S neox | S mart |
|---|---|---|
| 垂直分辨率 | 0.1nm | 0.5nm |
| 水平分辨率 | 0.5μ尘 | 1μ尘 |
| 测量速度 | 5秒/次 | 10秒/次 |
| 最大样品尺寸 | 200mm | 150mm |
| 工作距离 | 20-80mm | 15-50mm |
半导体晶圆表面缺陷检测
惭贰惭厂器件叁维形貌分析
光学元件表面质量评估
金属材料粗糙度测量
样品准备：确保待测表面清洁无污染
参数设置：根据样品特性选择合适的光学模式和放大倍率
自动对焦：使用软件自动对焦功能获取清晰图像
数据分析：通过配套软件进行叁维重建和参数计算
定期清洁光学元件
保持工作环境温湿度稳定
避免震动和强磁场干扰
结语：
厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪以可靠的测量性能和灵活的应用配置，为工业检测和科研工作提供有力支持。如需了解更多技术细节或测试服务，欢迎联系当地技术支持团队。厂别苍蝉辞蹿补谤白光干涉仪高分辨表面分析解决方案
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