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产物介绍
Sensofar S neox光学轮廓仪多样表面测量在微纳尺度表面表征领域，Sensofar S neox光学轮廓仪通过创新的多技术融合设计，为科研与工业应用提供了可靠的测量解决方案。该设备整合了共聚焦显微镜、干涉仪和白光干涉仪叁种测量模式，能够适应不同特性的样品表面分析需求。
产物分类
在微纳尺度表面表征领域，Sensofar S neox光学轮廓仪通过创新的多技术融合设计，为科研与工业应用提供了可靠的测量解决方案。该设备整合了共聚焦显微镜、干涉仪和白光干涉仪叁种测量模式，能够适应不同特性的样品表面分析需求。
多模式测量技术特点：
共聚焦模式适用于高陡坡表面测量
干涉模式可实现亚纳米级分辨率
白光干涉模式提供较大视场的叁维形貌重建
自动模式识别功能可智能选择优良测量方案
典型应用场景：
微电子行业：晶圆、惭贰惭厂器件表面检测
精密加工：刀具、模具表面质量评估
材料研究：涂层、薄膜表面形貌分析
生物医学：植入物表面特性表征
智能化操作体验：
配备直观的测量分析软件
支持自动化测量流程
提供全面的表面参数分析功能
可定制化测量方案满足特殊需求
Sensofar S neox凭借其灵活的多技术集成设计，为表面形貌测量提供了更多可能性。如需了解设备详细技术参数或获取应用支持，欢迎联系Sensofar专业技术服务团队。
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公司地址：北京市房山区长阳镇
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