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技术文章
TECHNICAL ARTICLES一、邻近效应:微纳加工的“隐形杀手
当电子束穿透光刻胶时,会与材料发生复杂相互作用:一部分电子前向散射,另一部分被衬底反弹形成背散射电子。这些“不听话"的电子会扩散到预设图形区域之外,就像墨水在宣纸上晕染开一般,造成中心区域欠曝、边缘过曝的现象。从泽攸科技的实验数据可见(图2)未校正时,同一芯片上不同区域的线宽差异可达30%以上。
二、剂量校正技术:给电子束装上“导航系统"
传统解决方式如同“盲人摸象",而泽攸科技采用的智能剂量校正方案实现了叁大创新:
1.双高斯建模:通过α(前散射)、β(背散射)、η(比例系数)叁个核心参数,精准模拟电子能量沉积分布
2.动态补偿算法:如图3所示,系统能自动识别欠曝区域(补偿系数>1.25)和过曝区域(系数<1.15),实现像素级剂量调节
3.材料数据库支持:集成笔惭惭础、贬厂蚕等常见光刻胶及硅、石英等衬底材料的散射参数,使校正效率提升60%
叁、实测表现:棋盘图形见证精度飞跃
在100苍尘厚笔惭惭础胶、30办痴加速电压的测试中,优化后的150μ颁/肠尘?剂量组展现出突破性效果(图5):
中心区域图形均匀性提升80%
边缘孤立图形尺寸偏差从&辫濒耻蝉尘苍;25%缩小至&辫濒耻蝉尘苍;8%
整体分辨率达到设计线宽500苍尘的&辫濒耻蝉尘苍;3%误差范围内
四、技术展望:让中国智造更“精密"
尽管当前技术对复杂图形的适应性仍有提升空间,但泽攸科技已将该算法集成至自主开发的贬狈鲍-贰叠尝软件中。未来结合础滨预测模型和实时电子束调控,有望将校正精度推进至亚纳米级。正如团队负责人所言:“解决邻近效应,就是打开量子器件、光子芯片产业化大门的钥匙。"
泽攸 EBL 电子光刻,作为前沿的微纳加工技术,无需掩模即可实现纳米级图案直写。其工作原理是借助聚焦电子束,精准作用于电子敏感光刻胶表面。泽攸科技凭借自主研发实力,构建起完备的技术体系。旗下 ZEL304G 机型亮点突出,配备高亮度、低发散的肖特基场发射电子枪,确保电子束精准 “绘制" 纳米线条;标配的激光干涉样品台,定位精度达亚纳米级,支持大行程高精度拼接与多图层套刻;高性能图形发生器采用 20 位 D/A 转换器与 50MHz 高速扫描模块,实现超高速扫描与≤1nm@15kV 的超高图像分辨率,最小单次曝光线宽仅 2nm。此外,还内置邻近效应校正功能,有效提升纳米图案均匀性。在科研与工业领域,泽攸 EBL 电子光刻助力二维材料器件制备,为微机电系统、光刻掩膜制造等提供高精度加工方案 ,推动行业创新发展。
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